NK 47 – Halvlederinnretninger og integrerte kretser

En norsk komite som speiler og påvirker det internasjonale arbeidet i IEC og CENELEC

Integrerte kretser

Arbeidsområde

For å utarbeide internasjonale standarder for design, produksjon, bruk og gjenbruk av diskrete halvlederenheter, integrerte kretser, displayenheter, sensorer, elektroniske komponentsammenstillinger, grensesnittkrav og mikroelektromekaniske enheter, ved å bruke miljømessig forsvarlig praksis.

Aktiviteter inkluderer wafernivåpålitelighet, pakkeskisser, termer og definisjoner, kvalitetsproblemer, fysisk miljøtesting, enhetsspesifikke testmetoder, enhetsspesifikasjoner og minimumsinnhold, pinouts, grensesnittkrav og applikasjoner.

Nasjonalt arbeid

Det er for tiden ingen norsk speilkomite som arbeider innen dette temaet (Norge er O-medlem). De internasjonale standardene innen område fastsettes dermed uten norsk påvirkning. Om din virksomhet arbeider innen det aktuelle tema og ønsker å påvirke standardene, bør du ta kontakt med NEK for å drøfte mulighetene for å opprette en norsk speilkomite.

NEK erfarer at norske miljøer, innen ulike spesialfelt, kan arbeide isolert fra andre uten å være klar over hverandres eksistens. Dersom din virksomhet ønsker utveksling av nyttig kunnskap kan komitearbeid være nyttig.

Internasjonalt arbeid

Det henvises til omtale på nettsidene til IEC og CENELEC:

IEC TC 47 – Semiconductors devices

CLC SR47 – Semiconductors devices

Bli medlem?

Vil du bidra til å forbedre standarder innen dette fagområdet?

Relaterte artikler

Se alle nyheter

Gratis seminar 15. juni om offentlig regelverk og standarder

Dato
09.06.2022

Utmerkelse til nordmenn

Dato
23.05.2022

NEK og Språkrådet skal samarbeide

Dato
28.04.2022